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P-7 台式探针式轮廓仪

更新时间:2022-07-02 信息编号:1660698
P-7 台式探针式轮廓仪
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P-7支持从几纳米到一毫米的台阶高度测量,适用于生产和研发环境。该系统可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量,其扫描可达150mm而无需图像拼接。作为台式探针轮廓仪平台提供了*高的性价比。 image.p*gimage.p*g image.p*gimage.p*g 主要功能 · 台阶高度:几纳米至1000μm · 微力恒力控制:0.03至50mg · 样品全直径扫描,无需图像拼接 · 视频:500万像素高分辨率彩色摄像机 · 圆弧校正:消除由于探针的弧形运动引起的误差 · 软件:简单易用的软件界面 · 生产能力:通过测序,模式识别和SECS / GEM实现全自动化 image.p*g 主要应用 · 台阶高度:2D和3D台阶高度 · 纹理:2D和3D粗糙度和波纹度 · 形状:2D和3D翘曲和形状 · 应力:2D和3D薄膜应力 · 缺陷复检:2D和3D缺陷表面形貌 工业应用 · 大学、研究实验室和研究所 · 半导体和化合物半导体 · LED:发光二极管 · 太阳能 · MEMS:微机电系统 · 数据存储 · 汽车 · 医疗设备 · 还有更多:请与我们联系以满足您的要求
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