美国QVI/RAM Starlite 150 光学影像测量仪
更新时间：2022-06-12
信息编号：1499973
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一款紧凑型独立测量系统 StarLite 150 是一款较新设计的，非接触式的检测系统以及唾手可得的交互式性能. 这就是您所需的**可视测量系统. StarLite 150 是检测和测量的理想选择，主要应用于塑料, 医疗设备和零件, 汽车行业, 航空航天, 电子行业以及更多其他行业. 特征: ? 铸铝底座 和圆柱形精密平台 ? 高分辨率数码彩色相机 和变焦光学 ? ** XY 测量 达到好于 0.0002 inches ? **的图像处理性能，自动边缘扫描以及众多的视场内编辑工具 ? Measure-X? 测量软件，实现手动系统交互式测量 StarLite 150 –**, ** 以及可重复测量，正是您所希望的测量系统. StarLite 150 使用简单, 拥有符合人体工学的设计, 以及**的功能齐全的软件. 带前置面板控制，可以提高生产效率– 电动变焦, XYZ 归零设置, 输入点按钮, 斜对齐, 以及 英寸/毫米 切换按钮. Measure-X 测量软件 引导使用者通过绘图单元和独立工具来创建测量程，在手动系统上**得到测量结果。 Starlite 150 详细参数 X-Y 轴 英制单位 公制单位 XY 行程 6' X3' 150X75mm XY 精度 E2=(4.5+8L/1000)um 光栅尺分辨率 0.00004' 1.0um Z-轴 Z 行程 5' 125mm Z 精度 E1=(7.0+8L/1000)um 光栅尺分辨率 0.00004' 1.0um 可选性能 工作距离(带 VectorLight) 2.75' 70mm 放大倍数 20' 显示器 35X 至 175X 视场 0.070'-0.35' 1.8-8.9mm 物理特性 载重 15lbs 7kg 环境 温度,安全操作 59°F-86°F 15°C-30°C 达标温度 68°F±2°F 20°C±1°C
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