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厂方**上海上光新光学干涉显微镜 6JA

更新时间:2024-04-12 信息编号:1382687
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用 途 ? 干涉显微镜6JA可用来测量精密零件(平面、圆柱等)表面光洁度的仪器,也可以测量表面刻线、镀层等深度。 ? 配以各种附件,还能测量微颗粒,加工纹路混乱的表面,低反射率的工件表面,也能将仪器安置在大型工件表面进行测量。 ? 仪器测量表面不平深度的范围为1-0.03微米,可用测微目镜和照相方法来评定▽10~▽14 光洁度的表面。 ? 干涉显微镜适用于企业计量室,精密零件制造企业,科学研究等单位,也是各大专院校典型教学仪器之一。 技术参数 ⑴ 测量表面光洁度范围:▽10-▽14 ⑵ 工作物镜数值孔径:0.65 ⑶ 工作距离:0.5mm ⑷ 视场范围:Φ0.25mm ⑸ 放大倍数:500× ⑹ 测微目镜放大倍数:12.5× ⑺ 测微鼓分划值:0.01mm ⑻ 绿色干涉滤光片波长:λ≈5300à ⑼ 半宽度:▽λ≈100à ⑽ 工作台行程:5mm,X-Y移动范围10mm,旋转范围360° ⑾ 仪器标准镜:高反射率:≈60%,低反射率:≈4% ⑿ 可调变压器输入电压:AC220V/50Hz,输出电压4-6V
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