供应高精度32.768khz晶振测试仪，晶振ppm测试仪GDS-80
更新时间：2024-01-12
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高精度32.768khz晶振测试仪，晶振ppm测试仪GDS-80 一、 产品简介 高精度32.768khz晶振测试仪，晶振ppm测试仪GDS-80是高性价比的晶振测试系统，采用微处理器技术，实现智能化测量，符合IEC-444标准。测量频率范围20KHz-100MHz，附RS-232接口进行数据通信。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业生产和科研使用。 高精度32.768khz晶振测试仪，晶振ppm测试仪GDS-80采用π型网络零相位法实现等精度测量。高精度32.768khz晶振测试仪，晶振ppm测试仪GDS-80测量精度高，速度快；具有串联谐振频率、负载谐振频率、串联谐振电阻、负载谐振电阻、PPM值、静电容等参数测量，可保存5个不同晶振频率和负载电容参数，负载电容在2-20P范围内任意编程设置，从满足不同负载电容的晶振测试，智能运算克服了市场上晶体阻抗计阻抗数值显示不明显的缺点、解除了手工校对的麻烦，让晶振测试变得较轻松。 二、 主要技术指标 1. 中心频率范围： 20KHz-100MHz任意设定 2. 负载电容：4-20P 任意设定 3. 负载谐振电阻：1Ω-300Ω 1K-300K 4. PPm范围测量：±300ppm 5. PPm测量精度：< 0.5ppm 6. 时基频率：16.384M 7. 晶振稳定性：2×10-8 /日 8. 体积：80×235×305（mm） 9. 保修期：三年
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