日置IM3536 LCR测试仪技术支持
更新时间：2023-09-05
信息编号：2024045
详情介绍
联系方式日置IM3536 LCR测试仪技术支持
Hioki IM3536 LCR测试仪
测量频率DC，4Hz~8MHz
测量时间：最快1ms
基本精度：±0.05% rdg
1mΩ以上的精度保证范围，也可安心进行低阻测量
可内部发生DC偏压测量
从研发到生产线活跃在各种领域中
测量频率4Hz~8MHz，精度保证范围1mΩ和测量范围扩大
以往产品（3532-50）的测量带宽为42Hz~5Mhz，而IM3536的带宽扩大到了4Hz~8MHz。因此，可以测量用于各种领域中的电子元件的特性。特别是，最高频率8MHz适用于高频化的电源用电感的测量。
而且，精度保证范围比起以往产品10mΩ以上，IM3536的精度保证为1mΩ以上，因此也适用于有低频化要求的电容等的测量。
和以往产品相比，实现高速、高精度测量
IM3536和以往产品相比改善了测量时间和基本精度。
比起以往产品的测量时间为5ms（0.005秒），IM3536是1ms（0.001秒），测量速度提高了4倍。因此，用于电子元件的产线中时，有助于提高产量。
而且，相对于以往产品的基本精度（代表值）0.08%，IM3536为0.05%，因此适用于有高精度要求的电子元件。
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